36. EDO Herbsttagung, 4.- 6. September 2006, Wuppertal
 

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36. EDO Herbsttagung,
4. - 6. Oktober 2006, Wuppertal




Niedervakuum-Rasterelektronenmikroskopie in der Forensik

P. F. Schmidt - Institut für Rechtsmedizin, UKM Münster
 

Die Niedervakuum-Rasterelektronenmikroskopie (NV-REM) erweitert die Untersuchungsmöglichkeiten in der Forensik. Die NV-REM erlaubt es, Aufladungseffekte zu vermeiden, da Proben ohne Beschichtung mit elektrisch leitenden Substanzen untersucht werden können. Dies ist von Vorteil bei Materialien wie z. B. Leder und Stoffgeweben,  die trotz Beschichtung noch Aufladungsartefakte zeigen. Solche Materialien können im NV abgebildet und analysiert werden. Es  werden ebenfalls Bedampfungsartefakte vermieden. Ein weiterer Vorteil der NV-REM ist die Unempfindlichkeit gegenüber stark ausgasenden  Proben, wie  z. B. größere Knochenfragmente, die untersucht werden können, um durch die  Abbildung von Einschlagspuren bezüglich der Morphologie und von eingelagerten Metallpartikeln Rückschlüsse auf das verwendete Schlagwerkzeug ziehen zu können. Ein weiteres Feld der NV-REM ist die Untersuchung von feuchten und nicht vakuumbeständigen Proben in Kombination mit einem Kühltisch. Beispiele aus dem Bereich der Untersuchung von Strommarken und Elektroschockerapplizierung auf Haut sollen dies dokumentieren. 

Diskutiert  werden ebenfalls die Kriterien, die die Auflösung, die Kontraste  und die Analyse im NV-REM bestimmen.
 
 

Bei Fragen und Anregungen email an edo@electronics.uni-wuppertal.de